微电子器件假冒翻新物理特征识别方法与程序

Test method and procedure for identification of physical characteristics of fake and counterfeit microelectronics devices

标准介绍

本文件规定了微电子器件假冒翻新物理特征识别方法与程序，包括外部特征分析、内部特征分析以及内部微观特征分析。
本文件适用于塑封及气密封装的微电子器件。

提出部门

中国电子学会可靠性分会

发布部门

中国电子学会