纳米制造　关键控制特性　发光纳米材料　第3部分：时间相关单光子计数法测量半导体量子点的荧光寿命

Nanomanufacturing—Key Control Characteristics—Luminescent nanomaterials—Part 3:Determination of fluorescence lifetime of semiconductor quantum dots using time correlated single photon counting(TCSPC)

标准介绍

本文件描述了使用时间相关单光子计数法（TCSPC)对半导体量子点（QDs)荧光寿命进行测量的方法，包括实验步骤、数据处理和测量示例。TCSPC适用于测量从皮秒到纳秒范围的荧光寿命。
本文件适用于QDs的稳定分散液，不适用于固体样品。

提出部门

中国科学院

发布部门

国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会