纳米技术　纳米材料电阻率的接触式测量方法　通则

Nanotechnology—Contacting methods for measuring the resistivity of nanomaterials—General rules

标准介绍

本标准规定了纳米材料电阻率的接触式测量方法，包括测量原理、仪器设备、测量条件、测量步骤、影响因素等。
本标准中静态四探针法（A法）适用于纳米薄膜、纳米浆料和纳米粉体的电阻率测量；动态四探针法（B法）、动态四线两电极法（C法）适用于纳米粉体电阻率的测量。

提出部门

中国科学院

发布部门

国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会