半导体器件可靠性强化试验方法

Reliability enhancement test of semiconductor devices

标准介绍

本文件规定了半导体器件可靠性强化试验方法，并规定了半导体器件强化试验的一般步骤、相关要求、方法及参数监测等。
本文件适用于半导体分立器件、集成电路、微波器件的可靠性强化试验指导。

提出部门

中国电子学会可靠性分会

发布部门

中国电子学会